[发明专利]氧气浓度探测元件及其制造方法无效
| 申请号： | 200510004580.2 | 申请日： | 2005-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN1645126A | 公开（公告）日： | 2005-07-27 |
| 发明（设计）人： | 堺洋一 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G01N27/409 | 分类号： | G01N27/409;G01N27/403 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 郑修哲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种氧气浓度探测元件，包括：由绝缘材料构成的基部；与基部相连的、在通电时产生热量的电加热器层；以及与基部相连的氧气探测层状单元。所述氧气探测层状单元包括一个固体电解质层以及参考和探测电极层，所述固体电解质层可操作地夹设在所述参考电极层与所述探测电极层之间。所述氧气探测层状单元的厚度等于或小于所述基部厚度的11％。 | ||
| 搜索关键词： | 氧气 浓度 探测 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
1、一种氧气浓度探测元件，包括：由绝缘材料构成的基部；与所述基部相连以便在通电时产生热量的电加热器层；与所述基部相连的氧气探测层状单元，所述氧气探测层状单元包括固体电解质层以及参考和探测电极层，所述固体电解质层可操作地夹设于所述参考电极层与所述探测电极层之间；其中：所述氧气探测层状单元的厚度等于或小于所述基部厚度的11％。
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