[发明专利]用于测量发光元件的正向电压降的方法和装置、光源装置和热敏式打印机无效
| 申请号： | 200510001619.5 | 申请日： | 2005-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN1654968A | 公开（公告）日： | 2005-08-17 |
| 发明（设计）人： | 林淳司 | 申请（专利权）人： | 富士胶片株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张卫华 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种带有一个发光元件阵列的光学定影设备，该发光元件阵列由许多LEDs连接成矩阵而成。在每列中LEDs彼此串联，并且每个LED列彼此并联。晶体管分别与各个LED列串联，以便打开或关断相应的LED列。一个电容器并联于LED列。在通过打开一个开关给电容器充电之后，LED列中被选择的一列打开，通过这个被选择的LED列使电容器放电。根据在放电结束时通过电容器的电压测量通过该被选择的LED列的正向电压VFL。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 发光 元件 正向 电压 方法 装置 光源 热敏 打印机 | ||
【主权项】：
1、一种用于测量由多个半导体彼此串联形成的多列半导体列组成的半导体阵列的正向电压降的正向电压降测量方法，其中，所述半导体列彼此并联，所述方法包括步骤：为与所述半导体的所述列并联的电容器充电；通过从所述列中选择一列使电容器放电；在所述电容器放电过程中的一个时刻或者在放电结束的时刻测量通过所述电容器的电压；根据所述测量得到的电压检测通过所述被选择的列的正向电压降。
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