[发明专利]具有低折射率及斥水性的覆膜有效

专利信息
申请号: 200480028583.3 申请日: 2004-12-17
公开(公告)号: CN1860196A 公开(公告)日: 2006-11-08
发明(设计)人: 元山贤一;谷好浩 申请(专利权)人: 日产化学工业株式会社
主分类号: C09D183/04 分类号: C09D183/04;C09D5/16
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 包于俊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供了在基材上显示1.28~1.41的折射率和90~115度的水接触角的,且与该基材的表面粘附形成的高硬度的覆膜。形成以特定比例含有Si(OR)4所示的硅化合物(A)、CF3(CF2)nCH2CH2Si(OR1) 3所示的硅化合物(B)、H2NCONH (CH)mSi(OR2) 3所示的硅化合物(C)、R3CH2OH所示醇(D)以及草酸(E)的反应混合物,通过在水不存在下于40~180℃加热该反应混合物生成聚硅氧烷的溶液,在基材表面涂布含有该溶液的涂布液,通过在40~450℃使该涂膜热固化来在该基材表面粘附形成显示1.28~1.41的折射率和90~115度的水接触角的覆膜、该覆膜的形成方法及该涂布液的制造方法。
搜索关键词: 具有 折射率 水性
【主权项】:
1.含有聚硅氧烷的涂布液的制造方法,其特征在于,形成含有式(1)Si(OR)4 (1)所示的硅化合物(A)、式(2)CF3(CF2)nCH2CH2Si(OR1)3 (2)所示的硅化合物(B)、式(3)H2NCONH(CH)mSi(OR2)3 (3)所示的硅化合物(C)、式(4)R3CH2OH (4)所示的醇(D)以及草酸(E)的反应混合物,使该反应混合物维持在由其中的硅原子换算的SiO2浓度在0.5~10重量%且不存在水的状态,同时在40~180℃加热直到该反应混合物中的硅化合物(A)、硅化合物(B)及硅化合物(C)的总残存量达到5摩尔%以下,该反应混合物中相对于1摩尔硅化合物(A),硅化合物(B)为0.05~0.43摩尔的比率,相对于1摩尔硅化合物(A),硅化合物(C)为0.01~0.20摩尔的比率,相对于1摩尔在硅化合物(A)、硅化合物(B)及硅化合物(C)中所含的全部烷氧基,醇(D)为0.5~100摩尔的比率,相对于1摩尔在硅化合物(A)、硅化合物(B)及硅化合物(C)中所含的全部烷氧基,草酸(E)为0.2~2摩尔的比率,式中,R表示具有1~5个碳原子的烷基,R1表示具有1~5个碳原子的烷基,n表示0~12的整数,R2 表示具有1~5个碳原子的烷基,m表示1~5的整数,R3表示氢原子或者具有1~12个碳原子的烷基,该烷基可用选自具有1~3个碳原子的烷基、具有1~3个碳原子的羟烷基、具有2~6个碳原子的烷氧基烷基、具有2~6个碳原子的羟基烷氧基烷基以及具有3~6个碳原子的烷氧基烷氧基烷基的不同或相同的1个以上的取代基任意取代。
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