[发明专利]利用腔环降光谱法的锥形光纤应变仪无效
| 申请号： | 200480023840.4 | 申请日： | 2004-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN1839301A | 公开（公告）日： | 2006-09-27 |
| 发明（设计）人： | 凯文·K·莱曼;彼得·B·塔尔萨;保罗·拉比诺维茨 | 申请（专利权）人： | 普林斯顿大学理事会 |
| 主分类号： | G01L11/02 | 分类号： | G01L11/02;G01D5/353 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于测量材料中的应变的装置。该装置包括无源光纤环；至少一个传感器，其具有预定形状并与该光纤环同轴，该至少一个传感器与基底耦合；耦合装置，用于i)将该相干源发出的一部分辐射引入到该无源光纤环中，ii)接收在该无源光纤环中谐振的一部分辐射；检测器，用于检测由该耦合装置接收的该辐射的大小并产生响应于此的信号；与该检测器耦合的处理器，用于根据由该检测器产生的该信号的衰减率来确定该基底中产生的应变程度。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 腔环降 光谱 锥形 光纤 应变 | ||
【主权项】：
1、一种与相干辐射源一同使用的装置，用于测量基底中产生的应变，该装置包括：无源光纤环；至少一个传感器，其具有预定形状并与该光纤环同轴，该至少一个该传感器与该基底耦合；耦合装置，用于i)将该相干源发出的一部分辐射引入到该无源光纤环中，并且ii)接收在该无源光纤环中谐振的该辐射的一部分；检测器，用于检测由该耦合装置接收的该辐射的大小并产生响应于此的信号；以及与该检测器耦合的处理器，用于根据在该无源光纤环中的该辐射的衰减率来确定该基底中产生的应变程度。
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