[发明专利]在离子总体中获取多个母离子的串联质谱分析数据有效
| 申请号： | 200480007336.5 | 申请日： | 2004-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN1833300A | 公开（公告）日： | 2006-09-13 |
| 发明（设计）人： | A·A·马卡罗夫;J·E·P·赛卡 | 申请（专利权）人： | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40;H01J49/42 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及串联质谱分析，尤其涉及使用线性离子阱和飞行时间检测器来收集质谱以形成MS/MS试验的串联质谱分析。已接受的标准是在飞行时间检测器中进行分裂物的质量分析之前将离子轴向喷射到碰撞室用于分裂，而在这之前存储并质量分析离子阱中的初级离子。本发明使用具有较窄m/z值范围的离子的正交喷射来产生要喷射到碰撞室的离子的带状束。该束的形状以及离子的高能量通过使用碰撞室的平面设计来提供。离子在喷射期间可被保留在离子阱中，从而逐次的较窄范围可顺序地步进以覆盖所有感兴趣的初级离子。 | ||
| 搜索关键词： | 离子 总体 获取 多个母 串联 谱分析 数据 | ||
【主权项】：
1.一种操作质谱仪的方法，该质谱仪包括离子源、带有多个细长电极的离子阱、碰撞室、以及飞行时间分析器，其特征在于，所述方法包括：陷获从所述离子源引入的离子并激活所述陷获离子，以便与所述电极的长度方向基本正交地喷射所述陷获离子，使所述喷射离子到达所述碰撞室；在所述碰撞室中分裂从所述离子阱中引入的离子；从所述碰撞室喷射分裂离子使它们到达所述飞行时间质量分析器；以及操作所述飞行时间分析器以获取其中离子的质谱。
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