[发明专利]荧光X射线分析用样品保持器具及采用其的荧光X射线分析方法和装置有效

专利信息
申请号: 200480001034.7 申请日: 2004-03-31
公开(公告)号: CN1820195A 公开(公告)日: 2006-08-16
发明(设计)人: 森山孝男;井上未知子 申请(专利权)人: 理学电机工业株式会社
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种荧光X射线分析用样品保持器具,该荧光X射线分析用样品保持器具用于对液体样品进行前处理,对含有成分进行荧光X射线分析,其包括环状的台座;厚度小于10μm的疏水性薄膜,该疏水性薄膜保持于上述台座上,具有周边部和用于使X射线透射的透射部;厚度在1~100μm的范围内的片状的液体吸收件,该液体吸收件贴付于该疏水性薄膜的透射部上;通过将上述液体样品下滴于该液体吸收件中,使其干燥,保持上述样品含有成分。
搜索关键词: 荧光 射线 分析 样品 保持 器具 采用 方法 装置
【主权项】:
1.一种荧光X射线分析用样品保持器具,该荧光X射线分析用样品保持器具用于对液体样品进行前处理,对含有成分进行荧光X射线分析,其包括:环状的台座;厚度小于10μm的疏水性薄膜,该疏水性薄膜具有保持于上述台座上的周边部和用于使X射线透射的透射部;厚度在1~100μm的范围内的片状的液体吸收件,该液体吸收件贴付于该疏水性薄膜的透射部上;通过将上述液体样品下滴于该液体吸收件中,使其干燥,保持上述样品含有成分。
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