[发明专利]运行具有改进的线性性的计数辐射检测器的方法无效
| 申请号： | 200410098374.8 | 申请日： | 2004-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN1627100A | 公开（公告）日： | 2005-06-15 |
| 发明（设计）人： | 比约恩·海斯曼;西尔克·詹森;托马斯·冯德哈尔 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/17 | 分类号： | G01T1/17 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹;邵亚丽 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器，特别是计数X射线检测器的方法，在运行期间计数辐射检测器(4)的每个检测器元件(14)以取决于每时间单位出现的射线量子数的计数率提供计数脉冲；将每个检测器元件(14)或检测器元件(14)的部分片段提供的计数率，通过函数关系换算成实际计数率，或乘以取决于计数率大小的校正系数。校正系数是对各检测器元件(14)或其部分片段事先确定的，用于对由于检测器元件(14)的空载时间形成的、与每时间单位出现的射线量子实际数的计数率的偏差进行校正。本发明方法尤其在高辐射强度下改善了计数辐射检测器的线性性，在X射线CT设备中也能满足线性条件。 | ||
| 搜索关键词： | 运行 具有 改进 线性 计数 辐射 检测器 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器，特别是计数X射线检测器的方法，其中，在运行期间计数辐射检测器(4)的每个检测器元件(14)以取决于每时间单位出现的射线量子数目的计数率提供计数脉冲，其特征在于，将由每个检测器元件(14)或检测器元件(14)的部分片段所提供的计数率，通过函数关系换算成实际的计数率，或者乘以取决于计数率大小的校正系数，所述校正系数是对各检测器元件(14)或者其部分片段事先确定的，并且对由于检测器元件(14)的空载时间而形成的、与每时间单位出现的射线量子的实际数目的计数率的偏差进行校正。
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