[发明专利]一类用于测量锑化物材料载流子浓度剖面的电解液无效

专利信息
申请号: 200410093246.4 申请日: 2004-12-17
公开(公告)号: CN1632552A 公开(公告)日: 2005-06-29
发明(设计)人: 洪婷;张永刚;朱福英 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01N27/28 分类号: G01N27/28;G01N27/44
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 潘振甦
地址: 200050*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一类适用于电化学电容-电压(ECV)方法测量锑化物半导体材料载流子浓度剖面分布电解液,目的在于提高电化学电容-电压方法测量锑化物材料载流子浓度的准确性。其基本特征在于:基础溶液为酒石酸钾钠的水溶液;在测量不同导电类型(p型或n型)的锑化物半导体材料时,分别添加酸性溶液或者碱性溶液以形成可靠的电解液—半导体肖特基结,从而达到准确测量的目的。添加的酸性溶液可以是盐酸、酒石酸或冰醋酸等非氧化性酸或它们的混合物,添加的碱性溶液可为氢氧化钠或氢氧化钾与乙二胺四乙酸(EDTA)的混合溶液。在电化学C-V方法测量中采用此电解液测量锑化物材料的剖面载流子浓度,能获得与霍尔等方法测量结果相符的结果,并且具有无毒性、易保存等优点。
搜索关键词: 一类 用于 测量 锑化物 材料 载流子 浓度 剖面 电解液
【主权项】:
1.一类用于电化学电容—电压(ECV)方法测量锑化物材料剖面载流子浓度分布的电解液,其特征是以水为溶剂,以酒石酸钾钠为基本溶质,添加酸性或碱性溶液来调节溶液的pH值在3~12范围内,以分别测量n型或p型锑化物半导体材料的载流子浓度。
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