[发明专利]砷化镓单晶的生长方法无效

专利信息
申请号: 200410093025.7 申请日: 2004-12-15
公开(公告)号: CN1657659A 公开(公告)日: 2005-08-24
发明(设计)人: 周国清;董永军;徐军;钱晓波;李晓清;苏凤莲 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C30B11/00 分类号: C30B11/00;C30B29/42
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种砷化镓单晶的生长方法,其特征在于采用双加热温度温梯炉进行生长,具体步骤包括:①坩埚和生长炉的预烧处理,②晶体生长,③高温原位退火。采用本发明方法生长的砷化镓单晶具有位错密度低、热应力小和均匀性好的特点。
搜索关键词: 砷化镓单晶 生长 方法
【主权项】:
1、一种砷化镓单晶的生长方法,其特征在于采用双加热温度温梯炉进行生长,具体步骤如下:①坩埚和生长炉的预烧处理:在坩埚未装原料的情况下,对于氮化硼坩埚和生长炉内的装置进行高温预烧结处理,具体做法:对双加热温度梯度炉抽真空,真空度小于6×10-3Pa后,以50-150℃/小时的速率升温到1300-1500℃,保温24~48小时,降温速率为50-150℃/小时,降至室温后打开炉罩;②晶体生长过程:将定向好的砷化镓籽晶放入氮化硼坩埚的籽晶槽中,将坩埚置于坩埚定位棒的圆形凹槽内,在坩埚中放入按比例混合好的原料,氮化硼坩埚上覆盖氧化铝刚玉板,将炉体的其它组件装配到位,放下钟罩;打开真空系统对生长炉抽高真空,当真空度小于6×10-3Pa后,充入高纯保护氩气或氮气,气压为0.01~0.05MP;启动生长控制程序,升温速率为10-100℃/小时,升温至1300-1500℃,恒温3~12小时,以2~10℃/小时速率降温至900~1100℃;③高温原位退火:当砷化镓晶体结晶结束后,炉内温度降至900~1100℃时,保温1~30小时,退火结束后,以5~20℃/小时降至室温,晶体生长完毕。
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