[发明专利]溅射装置无效

专利信息
申请号: 200410085983.X 申请日: 2004-10-25
公开(公告)号: CN1611631A 公开(公告)日: 2005-05-04
发明(设计)人: 太田达男;中野智史;德弘节夫 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达精密光学株式会社
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种能够高速形成高性能的光学薄膜的溅射装置。本发明的溅射装置90的真空室2内具有圆筒状或平板状的至少两个靶材料63、和使上述靶材料的外表面附近产生磁场的磁铁80。其特征在于:设两个靶材料的外表面之间的间隔为d1、设上述靶材料的外表面与衬底表面之间的间隔为d2时,满足下式1,d1≤3d2(式1)。
搜索关键词: 溅射 装置
【主权项】:
1.一种溅射装置,用于把薄膜涂层涂覆到衬底上,该溅射装置包括:真空室;在所述真空室内的至少两个圆筒状的靶或两个平板状的靶;以及至少两个并列地分别置于各个靶上的磁铁,用于在该靶的外表面附近产生磁场;其中,1)所述薄膜涂层通过在把电压施加到各个磁铁上的同时,向所述真空室中导入放电气体而形成;2)在所述真空室中满足公式(1)d1≤3d2其中,d1是两个靶的外表面之间的距离,d2是两个靶的外表面与衬底之间的任一个距离。
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