[发明专利]进样口密封装置及其气相分析仪系统有效
申请号: | 200410080299.2 | 申请日: | 2004-09-30 |
公开(公告)号: | CN1755358A | 公开(公告)日: | 2006-04-05 |
发明(设计)人: | 宋伟晾;徐立;何国琛 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技公司 |
主分类号: | G01N30/16 | 分类号: | G01N30/16;G01N30/00;F16J15/02 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王允方;刘国伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明揭示了一种进样口,该进样口包含一下部组件,及一上部组件。该下部组件包含至少一阳性单元,该上部组件具有至少一斜面,且包含至少一阴性单元与一横向驱动单元。通过对准该上部组件的阴性单元与该下部组件的阳性单元,该上部组件收容于该下部组件内。横向驱动单元横向驱动该上部组件,使该上部组件的斜面上升而为该下部组件的阳性单元抵靠,以使该上部组件与该下部组件密合。 | ||
搜索关键词: | 进样口 密封 装置 及其 分析 系统 | ||
【主权项】:
1.一种进样口,其特征在于包括:一下部组件,包括一第一阳性单元;一上部组件,具有一第一斜面,更包括一第一阴性单元;一横向驱动单元;其中当通过对准该上部组件的第一阴性单元与该下部组件的第一阳性单元而将该上部组件放入该下部组件时,藉由该横向驱动单元横向驱动该上部组件,该上部组件的第一斜面上升抵靠该下部组件的第一阳性单元,使该上部组件与该下部组件密合。
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