[发明专利]隐藏带测试模式的图像传感器中的缺陷像素的方法有效
| 申请号： | 200410074926.1 | 申请日： | 2001-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN1617563A | 公开（公告）日： | 2005-05-18 |
| 发明（设计）人： | 金显殷 | 申请（专利权）人： | 金显殷;马格纳奇普半导体有限公司 |
| 主分类号： | H04N1/028 | 分类号： | H04N1/028;H04N5/335;H04N5/225 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹;邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种隐藏具有测试模式的图像传感器中的有缺陷像素的方法。根据本发明的图像传感器中缺陷像素的隐藏方法，包括下列步骤：a)搜索白色像素，并且为测试模式临时存储所述白色像素的位置；b)搜索黑色像素，并且临时存储所述黑色像素的位置；c)存储作为缺陷像素的黑色和白色像素的位置，并且为测试模式接收来自物体的图像；d)把与来自物体的图像相关的像素的位置与缺陷像素的位置比较，并且通过插补为缺陷像素合成一图像。 | ||
| 搜索关键词： | 隐藏 测试 模式 图像传感器 中的 缺陷 像素 方法 | ||
【主权项】：
1.一种图像传感器中缺陷像素的隐藏方法，包括下列步骤：a)搜索白色像素，并且为测试模式临时存储所述白色像素的位置；b)搜索黑色像素，并且临时存储所述黑色像素的位置；c)存储作为缺陷像素的黑色和白色像素的位置，并且为测试模式接收来自物体的图像；d)把与来自物体的图像相关的像素的位置与缺陷像素的位置比较，并且通过插补为缺陷像素合成一图像。
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