[发明专利]存取性能调整方法和存储装置无效
| 申请号： | 200410063600.9 | 申请日： | 2004-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN1661677A | 公开（公告）日： | 2005-08-31 |
| 发明（设计）人： | 山本道夫 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/00 | 分类号： | G11B5/00;G11B27/10;G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 存取性能调整方法和存储装置。一种存取性能调整方法，适用于具有存储器的存储装置，该存储器用来预先存储用于根据磁头移动时间转换记录介质的各个磁道的数据写入起始位置的斜移量，该磁头移动时间是在顺序存取记录介质的多个磁道的顺序存取期间磁头从一个磁道移动到另一磁道所需的时间。该方法包括测量关于磁头和记录介质的组合的装置性能，根据基准装置性能和所测量的装置性能，计算对于该组合的斜移调整量，并通过该斜移调整量调整从该存储器中读取的斜移量并将该调整后的斜移量作为斜移量的更新值存储在该存储器中。 | ||
| 搜索关键词： | 存取 性能 调整 方法 存储 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于存储装置的存取性能调整方法，该存储装置具有存储器，该存储器用来预先存储用于根据磁头移动时间转换记录介质的各个磁道的数据写入起始位置的斜移量，该磁头移动时间是在顺序存取该记录介质的多个磁道的顺序存取期间磁头从一个磁道移动到另一磁道所需的时间，该方法的特征在于包括以下步骤：(a)测量关于所述磁头和所述记录介质的组合的装置性能；(b)根据基准装置性能和所测量的装置性能计算对于所述组合的斜移调整量；以及(c)通过所述斜移调整量调整从所述存储器中读取的所述斜移量，并将调整后的斜移量作为所述斜移量的更新值存储在所述存储器中。
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