[发明专利]热磁复制型磁记录方法和磁盘装置无效
| 申请号： | 200410063560.8 | 申请日： | 2004-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN1645497A | 公开（公告）日： | 2005-07-27 |
| 发明（设计）人： | 川户良昭;伊藤显知 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G11B11/00 | 分类号： | G11B11/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及热磁复制型磁记录方法和磁盘装置，目的是提供实现超高记录密度、在耐热退磁性方面优越的热磁复制型的垂直磁记录介质。对于在使用低噪声Co类合金强磁体的第一记录层和使用在动作环境温度以下具有补偿点的铁氧体磁体(例如稀土－过渡金属化合物)的第二记录层之间具有中间层的记录介质，首先施加磁场在第一记录层形成磁化图形，接着通过用加热构件升温，在第二记录层复制磁化图形。在环境温度下，第二记录层为高矫顽力，通过适当设定记录磁场可仅在第一记录层形成磁化图形。此外，加热时，由于第二记录层为低矫顽力，磁化图形从第一记录层复制到第二记录层。 | ||
| 搜索关键词： | 复制 记录 方法 磁盘 装置 | ||
【主权项】：
1.一种热磁复制型记录介质，其特征在于：包括基片、第一记录层、在上述第一记录层和基片之间形成的第二记录层、在上述第一记录层和第二记录层之间形成的中间层；上述第二记录层在环境温度Ta下，具有大于上述第一记录层的磁各向异性或矫顽力，在比环境温度Ta设定得高的温度Tw下，具有比上述第一记录层小的磁各向异性或矫顽力。
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