[发明专利]射线照相设备及辐射检测信号处理方法无效

专利信息
申请号: 200410063348.1 申请日: 2004-07-08
公开(公告)号: CN1575755A 公开(公告)日: 2005-02-09
发明(设计)人: 冈村升一;藤井圭一;足立晋;平泽伸也;吉牟田利典;田边晃一;浅井重哉;西村晓弘 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;G01N23/00;G03B42/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王新华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数形成的冲激响应引起了包含在每个X射线检测信号中的滞后部分的假设,当X射线管发射X射线时,射线照相设备从得自FPD的辐射检测信号中去除滞后部分。例如,通过使用与在荧光检查图像拾取中使用的X射线剂量和在射线照相图像拾取中使用的X射线剂量相对应的FPD的冲激响应来去除滞后部分。根据从其中去除了滞后部分的已校正辐射检测信号来创建X射线图像。
搜索关键词: 射线 照相 设备 辐射 检测 信号 处理 方法
【主权项】:
1.一种射线照相设备,具有辐射发射装置,用于向受检目标发射辐射;辐射检测装置,用于检测透射过受检目标的辐射;以及信号采样装置,用于当向受检目标发射辐射时,以预定的采样时间间隔获得来自辐射检测装置的辐射检测信号,并根据以预定的采样时间间隔从辐射检测设备输出的辐射检测信号来获得射线照相图像,所述设备包括:时间滞后去除装置,用于根据由于由多个具有不同衰减时间常数的指数函数形成的冲激响应引起了包含在以预定采样时间间隔获得的所述辐射检测信号中的每一个中的滞后部分的假设,通过递归计算,从辐射检测信号中去除滞后部分;其中设置所述时间滞后去除装置,以根据辐射剂量来确定所述冲激响应,并通过根据与所述剂量相对应的所述冲激响应,去除滞后部分来获得已校正辐射检测信号。
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