[发明专利]光电导薄膜和使用此薄膜的光生伏打器件无效

专利信息
申请号: 200410061799.1 申请日: 1999-02-15
公开(公告)号: CN1560927A 公开(公告)日: 2005-01-05
发明(设计)人: 狩谷俊光 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H01L31/02 分类号: H01L31/02;H01L31/0236;H01L31/04;H01L31/075
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种形成在基片上且至少含有氢和硅晶粒的光电导薄膜,用恒定光电流方法测量时,光电导薄膜的Urbach能Eu为60meV或以下。该薄膜作为光电导薄膜,没有光退化,有很好的光电导率,提供的光生伏打器件有很好的温度特性和长期稳定性。
搜索关键词: 电导 薄膜 使用 光生伏打 器件
【主权项】:
1.一种形成在基片上且至少含有氢和硅晶粒的光电导薄膜,其中:用恒定光电流方法测量时,光电导薄膜的Urbach能Eu为60meV或以下,归于Si-H键的氢含量C1原子数%和归于Si-H2键的氢含量C2原子数%有C1/C2≥0.8且3≤C1+C2≤8原子数%的关系。
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