[发明专利]光电导薄膜和使用此薄膜的光生伏打器件无效
申请号: | 200410061799.1 | 申请日: | 1999-02-15 |
公开(公告)号: | CN1560927A | 公开(公告)日: | 2005-01-05 |
发明(设计)人: | 狩谷俊光 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H01L31/02 | 分类号: | H01L31/02;H01L31/0236;H01L31/04;H01L31/075 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种形成在基片上且至少含有氢和硅晶粒的光电导薄膜,用恒定光电流方法测量时,光电导薄膜的Urbach能Eu为60meV或以下。该薄膜作为光电导薄膜,没有光退化,有很好的光电导率,提供的光生伏打器件有很好的温度特性和长期稳定性。 | ||
搜索关键词: | 电导 薄膜 使用 光生伏打 器件 | ||
【主权项】:
1.一种形成在基片上且至少含有氢和硅晶粒的光电导薄膜,其中:用恒定光电流方法测量时,光电导薄膜的Urbach能Eu为60meV或以下,归于Si-H键的氢含量C1原子数%和归于Si-H2键的氢含量C2原子数%有C1/C2≥0.8且3≤C1+C2≤8原子数%的关系。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的