[发明专利]化学机械研磨用研磨剂及基板的研磨法无效
申请号: | 200410048737.7 | 申请日: | 2000-08-17 |
公开(公告)号: | CN1626567A | 公开(公告)日: | 2005-06-15 |
发明(设计)人: | 仓田靖;上方康雄;内田刚;寺崎裕树;五十岚明子 | 申请(专利权)人: | 日立化成工业株式会社 |
主分类号: | C08J5/14 | 分类号: | C08J5/14 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郝庆芬 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供的化学机械研磨用研磨剂,含有导体氧化剂、金属表面的保护膜形成剂、酸和水,pH低于3,氧化剂浓度为0.01-3重量%,或含有平均粒径在50nm以下、粒径分布的标准偏差大于5nm的磨料。 | ||
搜索关键词: | 化学 机械 研磨 研磨剂 | ||
【主权项】:
1.化学机械研磨用研磨剂,其含有导体的氧化剂、对金属表面的保护膜形成剂、酸和水,其pH在3以下,上述氧化剂的浓度为0.01~3重量%。
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