[发明专利]辐射检测器及其制造方法有效
申请号: | 200410048505.1 | 申请日: | 2004-06-07 |
公开(公告)号: | CN1576884A | 公开(公告)日: | 2005-02-09 |
发明(设计)人: | 大井淳一 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种辐射检测器,其具有格框,并且该格框布置在光导中。该格框是由光学元件薄片即光反射元件组合而成。在制造中,将格框放置在台架的凹部中,并充分消泡,然后将透光的液态树脂注入到凹部中。在液态树脂固化后格框和树脂形成光导,并从台架上取下来。然后对光导通过切割抛光以定型。这种结构允许任意的光反射元件的厚度和角度,并且反射元件和透明树脂之间没有间隙,从而确保高反射效率。 | ||
搜索关键词: | 辐射 检测器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种辐射检测器,其具有:闪烁器阵列,该闪烁器阵列由在二维空间上紧凑布置的多个闪烁器形成;光导,该光导光学组合到所述闪烁器阵列上;以及多个光电倍增管,其数量少于所述闪烁器的数量,并在光学上组合到所述光导上,其中:所述光导至少由格框和透明液态树脂形成,所述格框具有交叉组合的板形光学元件,并且所述格框限定多个小室;以及对所述形成小室的光学元件进行下面的至少一种调整:(a)沿着闪烁器阵列的布置方向将该光学元件调整到预定间距;(b)相对于闪烁器阵列的布置方向,将该光学元件调整到预定角度;以及(c)使光学元件的间距不同于闪烁器之间的间距。
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