[发明专利]非接触三维形状测定方法及装置无效
申请号: | 200410033227.2 | 申请日: | 2004-03-31 |
公开(公告)号: | CN1534272A | 公开(公告)日: | 2004-10-06 |
发明(设计)人: | 吉田博行 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 徐谦;叶恺东 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种边使相位移位边从不同于投影方向的其它方向来观测投影到测定对象的光栅图形,以此来解析按测定对象的形状来变形的光栅图像的对比度,由此来获取形状的非接触三维形状测定方法,其中,使投影侧及摄像侧的焦点连续移位,以扩大深度方向的测定范围,由此可在短时间内对大测定范围的三维形状进行非接触测定。 | ||
搜索关键词: | 接触 三维 形状 测定 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种非接触三维形状测定方法,是一种边使相位移位边从不同于投影方向的其它方向来观测投影到测定对象的光栅图形,以此来解析按测定对象的形状来变形的光栅图像的对比度,从而获取形状的非接触三维形状测定方法,其特征在于:使投影侧与摄像侧的焦点连续移位,扩大了深度方向的测定范围。
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