[发明专利]具低自更新电流的动态随机存取存储器的制造方法及系统无效

专利信息
申请号: 200410032187.X 申请日: 2004-04-02
公开(公告)号: CN1551231A 公开(公告)日: 2004-12-01
发明(设计)人: P·佩斯梅勒 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: G11C11/406 分类号: G11C11/406
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;张志醒
地址: 联邦德*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明系相关于一种降低DRAMs中自行更新电流需求之方法及系统。一DRAM系被区分为数区段,而整个DRAM芯片系于制造时加以测试,以决定在DRAM中每一单元之相对衰败率。每一个别区段之更新率系根据在该区段中之具最快衰败率之一DRAM单元而进行选择,而该DRAM系加以建构以于自行更新期间以不同区段有不同更新速率而更新存储单元,个别区段之该更新周期系利用如可程序化逻辑或熔线之技术而受到控制,以使能以较低更新率操作之那些区段跳过一些自行更新周期。在此方法中,存储器区段中许多存储单元之更新周期可以被降低,藉此而保留撷取所需之电流。
搜索关键词: 更新 电流 动态 随机存取存储器 制造 方法 系统
【主权项】:
1.一种降低一动态随机存取存储器中复数存储单元之更新频率之方法,包括下列步骤:将一包括复数存储单元之存储器阵列分配为复数区段;辨识该存储器阵列中之存储单元,其所需之一更新率系较该存储器阵列中其余存储单元所需之更新率为快;辨识相对应该已辨识存储单元之一区段;以及当一更新操作被激活时,更新在一已辨识区段中之存储单元,而该更新之更新率系不同于施加至该存储器阵列之其它区段中之存储单元之更新率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于因芬尼昂技术股份公司,未经因芬尼昂技术股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410032187.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top