[发明专利]检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器有效
| 申请号： | 200410031856.1 | 申请日： | 2001-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN1532828A | 公开（公告）日： | 2004-09-29 |
| 发明（设计）人： | 郑钟三;安荣万;金泰敬;徐偕贞 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/135 | 分类号： | G11B7/135;G11B7/125 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临;王志森 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种光学拾取器，包括光源、用于聚焦来自光源的入射光的物镜以及安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器，其特征在于包括：光束划分与检测装置，用于将反射后光束划分成光轴上的第一光束部分和在第一光束部分周围的第二和第三光束部分，并从第一、第二和第三光束部分检测第一、第二和第三检测信号；和厚度变化检测电路，用于通过从第一检测信号中减去第二和第三检测信号之和来检测记录介质的厚度变化。该光学拾取器允许检测记录介质的厚度变化，而无需在该光学拾取器的光接收侧安装散光镜。由记录介质的厚度变化引起的球形像差能够通过使用执行器根据检测的厚度变化信号驱动球形像差补偿单元或校准镜沿着光轴来校正。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 介质 厚度 变化 补偿 引起 球形 拾取 | ||
【主权项】：
1.一种光学拾取器，包括：光源，用于产生和发射光束；物镜，用于聚焦来自光源的入射光以在记录介质上形成光点；和安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器，用于改变入射光束的行进路径，该光学拾取器的特征在于包括：光束划分与检测装置，用于将从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束划分成光轴上的第一光束部分和在第一光束部分周围的第二和第三光束部分，并从第一、第二和第三光束部分检测第一、第二和第三检测信号；和厚度变化检测电路，用于通过从第一检测信号中减去第二和第三检测信号之和来检测记录介质的厚度变化。
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