[发明专利]光电二极管集成电路有效
| 申请号： | 200380110293.9 | 申请日： | 2003-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN1771543A | 公开（公告）日： | 2006-05-10 |
| 发明（设计）人： | 朴寿韩;金钟旭 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/13 | 分类号： | G11B7/13 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;谭昌驰 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于双波长激光二极管的光电二极管。根据本发明，提供了一种12划分光电二极管以用于分别检测DVD激光束和CD激光束，结果，使双波长激光二极管很好地适应于光学拾取器中。 | ||
| 搜索关键词： | 光电二极管 集成电路 | ||
【主权项】：
1、一种当从双波长光源发射的光被划分为将被光学记录介质反射的至少三个光分量时用于检测所述反射的光分量的光电检测器，该光电检测器包括：第一检测器，被划分为用于检测由光学记录介质反射的三个光分量的8个区域，以将这些光分量转换为电信号；第一计算部分，用于通过微分推挽方法从由第一检测器转换的电信号计算第一循道误差信号；第二计算部分，用于从由第一检测器转换的电信号，通过像散方法计算第一聚焦误差，通过微分相位检测方法计算第二循道误差信号；第二检测器，被划分为用于检测由光学记录介质反射的三个光分量的四个区域，以将这些光分量转换为电信号；和第三计算部分，用于从由第二检测器转换的电信号，通过像散方法计算第二聚焦误差信号，通过微分相位检测方法计算第三循道误差信号。
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