[发明专利]过程测量仪表

摘要

过程测量仪表用于测量过程容器中容纳的或过程管道中流动的介质的物理过程量。其包括：变换器(10)，其具有提供测量信号(s₁，s₂)的传感器设置(60)；以及连接至变换器(10)的测量仪表电子装置(50)。传感器设置(60)包括对物理过程量特别是过程量的变化作出反应的传感器元件(17)，并且借助于传感器元件(17)提供受物理过程量影响的测量信号(s₁)。传感器设置(60)还包括放置在变换器(10)中的至少一个温度传感器(40)，其本地记录变换器(10)中的温度(T₁)并且借助于温度传感器(40)将代表变换器(10)中的温度(T₁)的温度测量信号(θ仪表电子装置(50)使用测量信号(s₁)和测量信号(s₁)的校正值(K₁)，生成代表瞬时物理量的测量值(X)。测量电子装置(50)考虑温度传感器(40)过去记录的温度值，根据温度测量信号(θ₁)的时间分布确定校正值(K₁)。通过根据本发明的过程测量仪表，即使在变换器(10)内部的温度分布的不稳定过渡范围中，特别是在仅使用很少的温度传感器的情况，在测量信号中由温度产生的误差也能够被很好地补偿。

主权项

1.过程测量仪表，用于测量过程容器中容纳的或过程管道中流动的介质的至少一个物理过程量，特别是质量流量、密度、粘度、压力等，该测量仪表包括：-变换器(10)--该变换器具有提供测量信号(s1，s2)的传感器设置(60)，---该传感器设置包括主要对物理过程量，特别是过程量的变化作出反应的第一传感器元件(17)，并且借助于该第一传感器元件(17)提供受物理过程量影响的至少一个第一测量信号(s1)，且---该传感器设置还包括放置在变换器(10)中的至少一个第一温度传感器(40)，其本地检测变换器(10)中的第一温度T1，并且---该传感器设置利用至少一个温度传感器(40)提供代表变换器(10)中的第一温度T1的至少一个第一温度测量信号(θ1)；和-测量仪表电子装置(50)，其使用至少第一测量信号(s1)以及对于至少第一测量信号(s1)的第一校正值(K1)，生成代表当前物理量的至少一个测量值(X)，特别是质量流量测量值、密度测量值、粘度测量值或压力测量值，-其中在工作期间，测量仪表电子装置(50)考虑第一温度传感器(40)过去检测的温度值，根据至少第一温度测量信号(θ1)的时间分布确定第一校正值(K1)。