[发明专利]用于监控参考半电池的方法和设备有效
| 申请号： | 200380103414.7 | 申请日： | 2003-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN1756953A | 公开（公告）日： | 2006-04-05 |
| 发明（设计）人： | 托尔斯滕·佩希施泰因;卡特林·肖尔茨;斯万·哈尔蒂希 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416;G01N27/403 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 钟强;谷惠敏 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于监控参考半电池(3)的方法，其中参考半电池(3)与测量半电池(2)形成用于确定和/或监控介质(7)的离子浓度的电位测量点(1)，并且其中介质(7)的离子浓度是基于在测量半电池(2)和参考半电池(3)之间的测量电路中确定的至少一个测量信号而确定的。根据本发明，测量点(1)被间歇地在操作模式和测试模式中操作，其中在操作模式中测量离子浓度，并且在测试模式中检查参考半电池(3)的操作性能。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 监控 参考 电池 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.用于监控参考半电池(3)的方法，其中参考半电池(3)与测量半电池(2)形成用于确定和/或监控介质(7)的离子浓度的测量点(1)，并且其中介质(7)的离子浓度是基于在测量半电池(2)和参考半电池(3)之间的测量电路确定的至少一个测量信号而确定的，其特征在于测量点(1)被间歇地在操作模式和测试模式中操作，在操作模式中测量离子浓度，以及在测试模式中检查参考半电池(3)的操作性能。
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