[发明专利]物镜光学元件和光学拾取设备有效

专利信息
申请号: 200380102138.2 申请日: 2003-10-24
公开(公告)号: CN1729520A 公开(公告)日: 2006-02-01
发明(设计)人: 三森满;大田耕平;齐藤真一郎;新勇一;坂本胜也;池中清乃;户塚英和 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达精密光学株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及物镜光学元件的物镜光学元件,其对于波长λ1的光通量具有满足下面关系式的放大率m1:-1/7≤m1≤-1/25,且|m1|<|M1|,其中M1是从第一光源到第一光学信息记录介质对波长λ1的光通量的光学系统放大率。该物镜光学元件包括公共区域和专用区域。该专用区域包括具有抑制由于大气温度增加引起的球面像差的增加的功能的专用衍射结构。通过了专用衍射结构的波长λ2的光通量和光轴在不同于会聚光斑的位置处相交,该会聚光斑形成于第二光学信息记录介质的信息记录平面上。
搜索关键词: 物镜 光学 元件 拾取 设备
【主权项】:
1.一种用于光学拾取设备的物镜光学元件,该光学拾取设备提供有波长λ1的第一光源,波长λ2的第二光源,(λ1<λ2),和包括放大率改变元件和物镜光学元件的光会聚光学系统,其中所述光会聚光学系统会聚从第一光源发射经厚度t1的保护性衬底到第一光学信息记录介质的信息记录平面上的光通量,以便对第一光学信息记录介质执行信息记录和/或再现,且所述光会聚光学系统会聚从第二光源发射经厚度t2(t1≤t2)的保护性衬底到第二光学信息记录介质的信息记录平面上的光通量,以便对第二光学信息记录介质执行信息记录和/或再现,物镜光学元件对波长λ1的光通量具有光学系统放大率m1,且所述光学系统放大率m1满足下式:-1/7≤m1≤-1/25|m1|<|M1|其中M1是所述光学拾取设备中从所述第一光源到所述第一光学信息记录介质对于波长λ1的光通量的光学系统放大率,和物镜光学元件在至少一个表面上包括:公共区域,通过它,从所述第一光源的光通量和从所述第二光源的光通量共同通过,以便分别形成会聚光斑于所述第一光学信息记录平面的信息记录平面上和所述第二光学信息记录平面的信息记录平面上;和专用区域,来自所述第一光源的光通量通过它以便形成光会聚光斑于所述第一信息记录平面的信息记录平面上,且来自所述第二光源的光通量通过它以便不形成光会聚光斑于所述第二信息记录平面的信息记录平面上;其中所述专用区域包括专用衍射结构,当通过了专用衍射结构的波长λ1的光通量会聚于第一信息记录介质的信息记录平面时,该专用衍射结构具有抑制由于大气温度升高引起的球面像差按照波长λ1的光通量的波长波动的增加的功能,和其中通过了专用衍射结构的波长λ2的光通量和光轴在不同于形成于所述第二光学信息记录介质的信息记录平面上的会聚光斑的位置的位置相交。
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