[发明专利]检测容器颈环的表面缺陷或材料短缺的照射方法和装置有效
| 申请号： | 200380101952.2 | 申请日： | 2003-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN1708683A | 公开（公告）日： | 2005-12-14 |
| 发明（设计）人： | O·科勒;M·勒孔特 | 申请（专利权）人： | 蒂阿马公司 |
| 主分类号： | G01N21/90 | 分类号： | G01N21/90;G01N21/958 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟;王刚 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测具有对称轴(X)的容器的瓶颈(3)上表面缺陷和/或未填满的瓶口的光学方法。本发明的方法包括以下步骤：采用入射光束照射容器瓶颈(3)的表面(s)并且采用线性扫描摄像机接受由容器瓶颈反射的光束，从而确定表面缺陷和/或未填满的瓶颈的存在。更具体的是，该方法包括：采用向位于容器对称轴(X)上会聚点会聚并具有可变直径(D)和/或可变宽度(E)的均匀光环(C)，并且选择与照射容器瓶颈(3)所要求的预定平均入射角度(α)相关的会聚光环直径(D)给定值和/或与照射容器瓶颈(3)表面(s)宽度(L)相关的均匀光环宽度(E)给定值。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 容器 表面 缺陷 材料 短缺 照射 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、测定具有对称轴(X)容器(4)的颈环(3)上的表面缺陷和/或材料短缺的光学方法，该方法包括以下步骤：■采用入射光束照射容器(4)颈环(3)的表面(s)，■通过线扫描摄像机(6)收集由容器颈环反射的光束从而确定表面缺陷和/或材料短缺的存在，其特征在于，它包括：■获得向位于容器对称轴(X)的会聚点(F)会聚并具有可变直径(D)和/或可变宽度(E)的均匀光环(C)，■并且选择：●与照射容器(4)颈环(3)的表面(s)的所需平均入射角度(α)相关的会聚光环(C)直径(D)给定值，●和/或与照射容器(4)颈环(3)表面(s)的宽度(L)相关的均匀会聚光环(C)宽度(E)给定值。
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