[实用新型]低熔点玻璃粉涂敷轨迹校正工具无效
| 申请号： | 200320109770.7 | 申请日： | 2003-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN2669358Y | 公开（公告）日： | 2005-01-05 |
| 发明（设计）人： | 李俊宏 | 申请（专利权）人： | 彩虹集团电子股份有限公司;彩虹显示器件股份有限公司 |
| 主分类号： | H01J9/42 | 分类号： | H01J9/42;H01J9/24 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人： | 贾玉健 |
| 地址： | 71202*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于彩色显像管制造中的低熔点玻璃粉涂敷轨迹校正工具，其连接关系是：低玻机料罐上部安装有轨迹试校盘并用轨迹试校块固定，轨迹试校丝杆通过螺纹固定在轨迹试校盘上，轨迹试校丝杆下部穿过低玻机料罐底部，用手动将标有48点轨迹的标准锥体送入低玻涂敷机内，将主控制柜的控制旋钮打到试校位置，用轨迹试校盘开始试校轨迹，试校时轨迹试校盘丝杆下部对正标准锥体上的48个小黄点，锥体角部轨迹校正时，7、8、9三个点，19、20、21三个点，29、30、31三个点和41、42、43三个点要悬空在锥体外侧，并要使用弧度插入法，可提高涂敷轨迹点的分布与锥体实际外形轨迹的一致性，改善屏与锥的封接质量。 | ||
| 搜索关键词： | 熔点 玻璃粉 轨迹 校正 工具 | ||
【主权项】：
1.一种低熔点玻璃粉涂敷轨迹校正工具，包括低玻机料罐(5)，其特征在于，低玻机料罐(5)上部安装有轨迹试校盘(4)并用轨迹试校块(2)和(3)固定，轨迹试校丝杆(1)通过螺纹固定在轨迹试校盘(4)上，轨迹试校丝杆(1)下部穿过低玻机料罐(5)底部。
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