[发明专利]一种张膜式反光镜的焦距控制与测量方法及装置无效
申请号: | 200310121159.0 | 申请日: | 2003-12-22 |
公开(公告)号: | CN1632498A | 公开(公告)日: | 2005-06-29 |
发明(设计)人: | 李斌;李安定;臧春城;郑飞;李鑫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G02B5/08;G02B3/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 张膜式反光镜焦距控制测量方法和装置,由点光源系列组成环状光源,环状光源发出的光线经过毛玻璃、分划板和凸透镜后转变为模拟太阳光[14],模拟太阳光[14]投射到反光镜镜面[18]后发射汇聚到焦点处,形成亮斑,位于模拟太阳光发射器[13]及成像平面上方的CCD测控系统,对亮斑进行图像采集,计算机对亮斑图像进行分析处理,即得出反光镜的焦距。应用本发明方法的测量装置由CCD测控系统,模拟太阳光发射器[13]及成像平面[12],模拟太阳光发射器-成像平面随动机构,张膜式反光镜成型系统,计算机[22]测控系统等部分组成。本发明系统简单,成本低廉,适用性广,可用于已定型的抛物型(准抛物型)碟式反光镜的焦距测量及张膜式反光镜成型过程中焦斑质量的控制。 | ||
搜索关键词: | 一种 张膜式 反光镜 焦距 控制 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种张膜式反光镜焦距控制与测量方法,其特征在于由点光源[33]系列组成环状光源[36],环状光源[36]发出的光线经过毛玻璃[37]、分划板[38]和凸透镜[31]后转变为模拟太阳光[14],模拟太阳光[14]投射到张膜式反光镜镜面[18]后反射,汇聚到焦点处,形成一个亮斑,位于模拟太阳光发射器[13]及成像平面[12]上方的CCD测控系统,对亮斑进行图像采集,送到计算机测控系统,计算机对亮斑图像进行分析处理,即可得出张膜式反光镜的焦距。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所,未经中国科学院电工研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200310121159.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种水基焊缝渗漏检查液
- 下一篇:可调光学滤波器