[发明专利]容许倾斜的物镜系统的光学扫描装置无效
| 申请号： | 03814680.0 | 申请日： | 2003-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN1662972A | 公开（公告）日： | 2005-08-31 |
| 发明（设计）人： | B·H·W·亨里克斯;M·A·J·范阿斯;T·W·图克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/135 | 分类号： | G11B7/135;G02B13/24 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 邹光新;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种用于扫描光学记录载体(2)的信息层(4)的光学扫描装置(1)，该装置(1)包括用于产生辐射束(12)的辐射源(11)和用于将辐射束(12)会聚在信息层上的物镜系统(18)，物镜系统(18)的特征在于：在物镜系统(18)的场中，在倾斜光束入射到该系统时由物镜系统产生的光程差的(OPD的)均方根之比满足公式(I)的条件，其中OPD(A31)是第三阶Zernike慧差对均方根波前像差的贡献，OPD(A51)是第五阶Zernike慧差对均方根波前像差的贡献。 | ||
| 搜索关键词： | 容许 倾斜 物镜 系统 光学 扫描 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于扫描光学记录载体(2)的信息层(4)的光学扫描装置(1)，该装置(1)包括用于产生辐射束(12，15，17，20)的辐射源(11)和用于将辐射束会聚在信息层上的物镜系统(18)，物镜系统(18)的特征在于：在物镜系统(18)的场中，在倾斜光束入射到该系统时由物镜系统产生的光程差的(OPD的)均方根之比满足条件： 其中OPD(A31)是第三阶Zernike慧差对均方根波前像差的影响，OPD(A51)是第五阶Zernike慧差对均方根波前像差的影响。
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