[发明专利]分析材料的离析度、密度和水分的装置和方法

摘要

材料分析装置和用于分析的相关方法。所述的装置包括：包括基本绝缘的材料外壳(14)的分析仪本体(10)；包括发送装置(52)、接收装置(54)和控制装置(70)的材料分析电路(50)；包括发送天线(62)、接收天线(64)和接地层(68)的天线系统(60)；把所述天线系统(60)连接到材料分析电路(50)的连接结构(65)。所述材料分析电路(50)的发送装置(52)产生电磁波信号，所述电磁波信号适于由所述发送天线(62)发送并被导入要分析的材料。所述接收天线(64)接收从材料返回的任何信号，并将所述返回的信号发送给所述接收装置(54)和控制装置(70)。然后，所述控制装置(70)分析所述的信号，得到材料的特性，所述特性包括密度、材料离析度和水分中的至少一个。

主权项

1、一种材料分析装置，包括分析仪本体，所述的分析仪本体包括：材料外壳；材料分析电路，所述的材料分析电路包括发送装置、接收装置和控制装置，天线系统，所述的天线系统包括发送天线、接收天线和接地层；以及把所述的天线系统连接到所述材料分析电路的连接结构，其中，所述材料分析电路的发送装置产生电磁波信号，所述电磁波信号适于由所述的发送天线发送进要分析的材料，所述接收天线接收从所述的材料返回的信号，然后将返回的信号发送给所述接收装置和所述控制装置，然后所述控制装置分析返回的信号，得到所述材料的材料特性，其中所述天线系统的发送天线和接收天线以及所述的接地层构成了其间具有接地层的双导体传输线结构，以及其中所述的天线系统具有均匀的覆盖范围，没有死区，并且可以提供使得返回信号较少受材料表面性质、特性和材料表面结构影响的场形状。