[发明专利]磁性随机存储器器件的成形方法有效

专利信息
申请号: 03811541.7 申请日: 2003-04-21
公开(公告)号: CN1656580A 公开(公告)日: 2005-08-17
发明(设计)人: 马克斯·海因曼;卡伦·西里奥里尼;布拉德·J·霍华德 申请(专利权)人: 微米技术有限公司
主分类号: H01F41/30 分类号: H01F41/30;G11C11/16
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余刚
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种形成磁性随机存储器(MRAM)的方法以及由此得到的结构,该磁性随机存储器采用了位于存储单元(10)顶上的牺牲性的盖帽层(20)。多个带有盖帽层(20)的单独磁性存储器件(10)在基板上形成。连续的第一绝缘层(20,22)沉积在基板和磁性存储器件之上。至少除去第一绝缘层在磁性存储器件(10)之上的部分,然后有选择性地从磁性存储器件(10)中除去盖帽层(20),从而暴露出磁性存储器件(10)的活性顶面。磁性存储器件(10)的顶面凹陷到第一绝缘层(22)的顶面以下。形成与磁性存储器件(10)的活性顶面接触的顶部导体。图示的实施方案中,在沉积第一绝缘层(20,22)之前,沿着磁性存储器件(10)的侧面还形成有隔离片(36)。
搜索关键词: 磁性 随机 存储器 器件 成形 方法
【主权项】:
1.一种磁性随机存储器的成形方法,其包括:在基板上设置磁性存储层的叠层;在所述磁性存储层上沉积盖帽层;去除所述盖帽层和磁性存储层区域,从而限定多个带有盖帽层的单独磁性存储器件;在所述基板和所述磁性存储器件上设置连续的第一绝缘层;至少除去在所述磁性存储器件上的所述第一绝缘层部分;从所述磁性存储器件选择性地除去盖帽层,从而暴露出所述磁性存储器件的活性顶面;以及成形与所述磁性存储器件的活性顶面相接触的顶部导体。
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