[发明专利]光学测距的方法和装置无效
| 申请号： | 03806493.6 | 申请日： | 2003-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN1643397A | 公开（公告）日： | 2005-07-20 |
| 发明（设计）人： | P·斯波比尔 | 申请（专利权）人： | 微光测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01S13/12 | 分类号： | G01S13/12;G01S17/36;G01S17/10 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 包于俊 |
| 地址： | 德国朗*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用光学测距的方法和装置，其藉由发射一经调幅及集束的光学信号及接收从目标物反射的信号，其中调制频率由一调节回路不断地调整，以致于发出和接收到的信号之间存在了一与距离无关的固定相差，以及在保持高准确度同时，减少用于一距离评估电路的所需的电路装置以及增大可达到的调节速度，其特征在于使用一相位比较器测定相差。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测距 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学测距方法，其藉由发射出一经调幅及集束光学信号以及藉由接收从目标物反射的信号，其中调制频率经一调节频率以在发出和接收的信号之间存在一与距离无关的固定相差的方式不断地调整，其特征在于：以一相位比较器探测所产生的相差。
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