[发明专利]用于测量复杂电磁场的天线阵列无效
| 申请号： | 03802317.2 | 申请日： | 2003-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN1618023A | 公开（公告）日： | 2005-05-18 |
| 发明（设计）人： | 艾德里安·奥尔登;彼得·布伦;张明 | 申请（专利权）人： | 加拿大工业部 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蔡晓红 |
| 地址： | 加拿大安大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测量电磁场的方法和装置。在装置方面，本发明提供了一个由多个实质上相同的天线元件组成的阵列，这些天线元件的长度小于所述电磁场的波长并按等间距排列。所述间距比所述天线元件的长度约长三倍。每一个天线元件感应一个预定位置处的电磁场并据此提供一个信号。通过提供符合本发明标准的天线元件，可天线元件之间不存在明显的互耦合效应和散射效应的情况下，测得精确的电磁场强度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 复杂 电磁场 天线 阵列 | ||
【主权项】：
1、一种用于测量电磁场的天线阵列，其特征在于，包括：多个实质上相同的天线元件，它们的长度小于所述电磁场的波长，且相邻天线元件之间具有相同的间距，所述间距比所述天线元件的长度约长三倍，每一个天线元件感应一个预定位置处的电磁场，并据此提供一个信号，所述信号可指示出天线元件之间实质上不存在互耦合效应时的近似精确的电磁场强度。
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