[发明专利]测量矿物样品中间层的光谱分析设备有效
| 申请号： | 03801810.1 | 申请日： | 2003-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN1610824A | 公开（公告）日： | 2005-04-27 |
| 发明（设计）人： | 杜·普雷西思·富兰科思·爱伯哈德特 | 申请（专利权）人： | 布鲁科博知识产权(私人)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/85 | 分类号： | G01N21/85 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 林芳芳;王洁 |
| 地址： | 南非共和国斯*** | 国省代码： | 南非;ZA |
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| 摘要： | 本发明公开一种颗粒状矿物M的光谱分析方法。矿物M被移过一个照明区域18，光束被照射在矿物M上以将矿物照亮。收集从矿物M反射的光然后对其进行光谱分析，以获得有关颗粒矿物M的成分的信息。矿物M采取一个矿物层的形式，该矿物层有一个底表面20和一个顶表面22。照明区域18在底表面20和顶表面22的中间。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 矿物 样品 中间层 光谱分析 设备 | ||
【主权项】：
1.一种分析颗粒状矿物以提供有关其成分的信息的方法，该方法包括将所述颗粒矿物移过一个照明区域，将光束照射在所述矿物上以照亮该矿物，收集从所述矿物反射的光并对反射光进行光谱分析以获得有关该颗粒矿物的成分的信息，所述矿物采取矿物层的形式，该矿物层有一个底表面和一个顶表面，所述照明区域在该矿物层的底表面和顶表面的中间。
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