[实用新型]微尺寸探针测头无效

专利信息
申请号: 03260010.0 申请日: 2003-05-28
公开(公告)号: CN2616899Y 公开(公告)日: 2004-05-19
发明(设计)人: 孙涛;阎永达;董申;王洪祥 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N13/16 分类号: G01N13/16;G12B21/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001黑龙江省哈*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种微尺寸探针测头,包括微探针、电容测微仪,其特征在于碟形测头支架中心孔内安装有微探针殷钢支架,带有微探针的微悬臂固定在微探针殷钢支架上,双向调整支架装配在碟形测头支架的两端,双向调整支架分别装有激光器和位置检测器,碟形测头支架的上端安装有精密电极平板和压电陶瓷管,其内部有与精密电极平板有测量间隙的电容测微测量电极。激光器的下部设有准直透镜。本实用新型设计合理,垂直方向位置灵敏度小于±2nm,测量精度高,能够完成微纳米特征的位置与尺寸高精度测量;微探针半径非常尖锐,可达20~30nm,特别适用于微结构尺寸(如微沟槽、微台阶结构等)的测量;最大可以测量的倾斜角度为±30°,可以实现三维测量。
搜索关键词: 尺寸 探针
【主权项】:
1.一种微尺寸探针测头,包括微探针、电容测微仪,其特征在于碟形测头支架(5)中心孔内安装有微探针殷钢支架(3),带有微探针(1)的微悬臂(2)固定在微探针殷钢支架(3)上,双向调整支架(7)、(9)装配在碟形测头支架(5)的两端,双向调整支架(7)、(9)分别装有激光器(6)和位置检测器(8),碟形测头支架(5)的上端安装有精密电极平板(10)和压电陶瓷管(11),其内部有与精密电极平板(10)有测量间隙的电容测微测量电极(12)。
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