[实用新型]微尺寸探针测头无效
申请号: | 03260010.0 | 申请日: | 2003-05-28 |
公开(公告)号: | CN2616899Y | 公开(公告)日: | 2004-05-19 |
发明(设计)人: | 孙涛;阎永达;董申;王洪祥 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01N13/16 | 分类号: | G01N13/16;G12B21/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150001黑龙江省哈*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种微尺寸探针测头,包括微探针、电容测微仪,其特征在于碟形测头支架中心孔内安装有微探针殷钢支架,带有微探针的微悬臂固定在微探针殷钢支架上,双向调整支架装配在碟形测头支架的两端,双向调整支架分别装有激光器和位置检测器,碟形测头支架的上端安装有精密电极平板和压电陶瓷管,其内部有与精密电极平板有测量间隙的电容测微测量电极。激光器的下部设有准直透镜。本实用新型设计合理,垂直方向位置灵敏度小于±2nm,测量精度高,能够完成微纳米特征的位置与尺寸高精度测量;微探针半径非常尖锐,可达20~30nm,特别适用于微结构尺寸(如微沟槽、微台阶结构等)的测量;最大可以测量的倾斜角度为±30°,可以实现三维测量。 | ||
搜索关键词: | 尺寸 探针 | ||
【主权项】:
1.一种微尺寸探针测头,包括微探针、电容测微仪,其特征在于碟形测头支架(5)中心孔内安装有微探针殷钢支架(3),带有微探针(1)的微悬臂(2)固定在微探针殷钢支架(3)上,双向调整支架(7)、(9)装配在碟形测头支架(5)的两端,双向调整支架(7)、(9)分别装有激光器(6)和位置检测器(8),碟形测头支架(5)的上端安装有精密电极平板(10)和压电陶瓷管(11),其内部有与精密电极平板(10)有测量间隙的电容测微测量电极(12)。
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