[实用新型]自动化电子元件检测设备无效
| 申请号： | 03201439.2 | 申请日： | 2003-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN2603401Y | 公开（公告）日： | 2004-02-11 |
| 发明（设计）人： | 蔡顺钦 | 申请（专利权）人： | 纬典股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李学东 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种自动化电子元件检测设备，包括：一料盘，沿环周方向间隔配置供电子元件放置的若干容置孔；一传动装置，经一驱动装置驱动而带动料盘旋转，当各容置孔旋转至检测位置时将停留一段时间；第一及第二探针装置，各设有第一探针及第二探针，活动设于检测位置对应料盘两相反侧，以相向接近停留在检测位置上容置孔内的电子元件，而分别导接电子元件两相反端以进行检测，检测完毕后反向脱离电子元件。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 电子元件 检测 设备 | ||
【主权项】：
1.一种自动化电子元件检测设备，设置于一支承面而用以检测电子元件，该设备包括：一支承于该支承面的机台、一转动设置于该机台的料盘、一设于该机台以带动该料盘旋转的传动装置、一设于该机台以驱动该传动装置的驱动装置，及活动设置于该机台的第一探针装置及第二探针装置，其特征在于：该料盘沿环周方向间隔配置有若干供各该电子元件放置的容置孔；该传动装置在各容置孔旋转至一预定检测位置时，将在该检测位置停留一预定时间；该第一及第二探针装置各设有位于该检测位置对应该料盘的两相反侧的至少一第一探针及至少一第二探针，该第一及第二探针可于操作中相向接近停留于该检测位置上各容置孔内的电子元件，以分别导接于该电子元件的两相反端而进行检测，并且于检测完毕后反向脱离该电子元件。
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