[发明专利]相位差调整装置及方法以及应用该相位差调整装置的感测装置无效

专利信息
申请号: 03146524.2 申请日: 2003-07-03
公开(公告)号: CN1566899A 公开(公告)日: 2005-01-19
发明(设计)人: 杨景荣;高清芬;陈誉元 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 马娅佳
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种相位差调整装置,用以调整一第一信号S1(θ)与一第二信号S2(θ+φ+Δφ),使其产生与第一信号S1(θ)之间的相位差为φ的信号,包括:一调整装置,调整第一及第二信号的振幅而得到一第一及第二调整信号SD1、SD2,将第一调整信号SD1加上第二调整信号SD2,而得到一第三调整信号SD3=SD1+SD2;一相位差检出装置,用以检测第三调整信号SD3与第一信号S1的相位差;其中,相位差调整装置的相位差调整方法及应用该相位差调整装置的感测装置,亦一并揭露。
搜索关键词: 相位差 调整 装置 方法 以及 应用
【主权项】:
1.一种相位差调整方法,适用于调整一第一信号S1(θ)与一第二信号 S2(θ++Δ),使其产生与上述第一信号S1(θ)的相位差为的信号,其特征在 于,θ和θ++Δ分别表示上述第一信号S1和第二信号S2的相位,上述方法包 括下列步骤: (a)变化一第一增减率a1的值,以改变上述第一信号S1(θ)的振幅而得到一 第一调整信号SD1=a1×S1(θ); (b)变化一第二增减率a2的值,以改变上述第二信号S2(θ++Δ)的振幅而 得到一第二调整信号SD2=a2×S2(θ++Δ); (c)将上述第一调整信号SD1加上上述第二调整信号SD2,而得到一第三调 整信号SD3=a1×S1(θ)+a2×S2(θ++Δ); (d)检测上述第三调整信号SD3与上述第一信号S1(θ)的相位差;当上述第 三调整信号SD3与上述第一信号S1(θ)的相位差不为,则重复上述步骤(a)~ (d),直到上述第三调整信号SD3与上述第一信号S1(θ)的相位差为。
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