[发明专利]检测径向倾斜的方法和设备有效

专利信息
申请号: 03143057.0 申请日: 2003-06-18
公开(公告)号: CN1469348A 公开(公告)日: 2004-01-21
发明(设计)人: 马炳寅;金宽俊;朴仁植;崔炳浩 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/12;G11B20/18
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邸万奎;黄小临
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种用于检测盘的径向倾斜的方法和装置。比较从由八分仪光电二极管的外部光接收单元接收的信号a1、b1、c1、和d1获得的相加信号a1+c1和b1+d1的相位以产生外部相位比较信号Do。比较从由八分仪光电二极管的内部光接收单元接收的信号a2、b2、c2、和d2获得的相加信号a2+c2和b2+d2的相位以产生内部相位比较信号Di。基于当激光束横过形成盘的轨道时获得的内部和外部相位比较信号Di和Do来检测径向倾斜。因此,能更加精确地检测径向倾斜。
搜索关键词: 检测 径向 倾斜 方法 设备
【主权项】:
1.一种检测盘的径向倾斜的方法,该方法包括:(a)比较从由八分仪光电二极管的外部光接收单元接收的信号a1、b1、c1、和d1获得的相加信号a1+c1和b1+d1的相位,以产生外部相位比较信号Do;(b)比较从由八分仪光电二极管的内部光接收单元接收的信号a2、b2、c2、和d2获得的相加信号a2+c2和b2+d2的相位,以产生内部相位比较信号Di;(c)基于当激光束横过形成盘的轨道时获得的内部和外部相位比较信号Di和Do来检测径向倾斜。
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