[发明专利]为计算机断层造影设备的探测器信道确定校正系数的方法无效
| 申请号： | 03140957.1 | 申请日： | 2003-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN1461949A | 公开（公告）日： | 2003-12-17 |
| 发明（设计）人： | 卡尔·斯蒂尔斯托弗;托马斯·斯托格－哈兹尔伯克 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;A61B6/03;G06F17/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹;邵亚丽 |
| 地址： | 联邦德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种为计算机断层造影设备的探测器信道确定校正系数或校正参数，尤其是确定信道校正系数和/或间隔系数的方法。其中，通过进行扫描来获得模型(11)的X射线照片，该模型具有平滑的横截面特性曲线，并在该计算机断层造影设备中被这样采用，即，在一次全扫描中，由几乎所有的探测器信道(3)获得多个不同的衰减值。根据该X射线照片，将该扫描的每次投影所获得的衰减特性曲线进行高通滤波，以获得与通过该模型(11)给定的理想特性曲线的偏离值。将模拟函数与每个探测器信道根据获得的衰减值得到的偏离值进行匹配，其中根据衰减值获得校正系数或校正参数。本方法可以简单地同时确定信道校正系数和间隔系数。 | ||
| 搜索关键词： | 计算机 断层 造影 设备 探测器 信道 确定 校正 系数 方法 | ||
【主权项】：
1.一种为计算机断层造影设备的探测器信道确定校正系数或校正参数的方法，其中，-在该计算机断层造影设备中这样采用具有平滑横截面特性曲线的模型(11)，即，在一次包括多个投影的扫描中，由几乎所有的探测器信道(3)获得多个不同的衰减值；-至少进行一次扫描，以获得该模型(11)的X射线照片；-根据该X射线照片，将该扫描的每次投影所获得的衰减特性曲线进行高通滤波，以获得与通过该模型(11)预先给定的理想特性曲线的偏离值；以及-对于每个探测器信道(3)，将模拟函数与每个探测器信道(3)的根据所获得的衰减值得到的偏离值进行匹配，其中，根据衰减值获得校正系数或校正参数。
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