[发明专利]磁阻效应膜与旋阀再生头有效

专利信息
申请号: 03119853.8 申请日: 2003-03-04
公开(公告)号: CN1467704A 公开(公告)日: 2004-01-14
发明(设计)人: 野间賢二 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B5/39 分类号: G11B5/39
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李德山
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 旋阀再生头具有磁道宽度小和稳定性高的特点。旋阀再生头包括:基层,包含磁感应部分的磁阻效应膜,在磁阻效应膜两侧形成的偏磁部分,端子部分,覆盖于所述组成部分之上的绝缘层,在绝缘层之上形成的顶层屏蔽层。磁阻效应膜按叠置次序包含固定磁层、无磁层、自由磁层。无磁导电层和蚀刻阻挡层依次堆叠在自由磁层之上,无磁导电层的电阻率比自由磁层的低,蚀刻阻挡层的溅射速率高于钽的、低于铜的。
搜索关键词: 磁阻 效应 再生
【主权项】:
1.磁阻效应膜,包括按顺序堆叠的固定磁层、无磁层和自由磁层,其中无磁导电层和蚀刻阻挡层依次堆叠在所述自由磁层之上,无磁导电层的电阻率比所述自由磁层的低,蚀刻阻挡层的溅射速率高于钽的、低于铜的。
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