[发明专利]二维微振动光纤检测系统及测试方法无效

专利信息
申请号: 03114835.2 申请日: 2003-01-10
公开(公告)号: CN1424558A 公开(公告)日: 2003-06-18
发明(设计)人: 陈世祥;殷宗敏;周正利;曹其美 申请(专利权)人: 上海加贝光电子产业研究有限公司
主分类号: G01B11/04 分类号: G01B11/04;G06T1/00
代理公司: 上海浦东良风专利代理有限责任公司 代理人: 陈志良
地址: 201203 上海市张*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明为二维微振动光纤检测系统及测试方法。二维微振动光纤检测系统包括二维光纤束微振动光纤传感器、对二维光纤束微振动光纤传感器输出的传感信号进行处理的图像处理器、接受图像处理器输出信号的监视器和存储记录器。二维微振动光纤检测系统的测试方法,将二维光纤束微振动光纤传感器安装在被测物体上,启动二维光纤束微振动光纤传感器的图像转换装置的电源,定标器设定标准信号,图像处理器将传感信号与标准信号进行比较后输出到监视器和存储记录器。本发明解决现有传感器不能解决的在线检测、高灵敏度的问题,具有抗高电压、强磁场、辐射、制造和结构简单的特点,可分别对微振动二维振幅和方向进行检测和监视。
搜索关键词: 二维 振动 光纤 检测 系统 测试 方法
【主权项】:
1、一种二维微振动光纤检测系统,其特征在于:它包括二维光纤束微振动光纤传感器、对二维光纤束微振动光纤传感器输出的传感信号进行处理的图像处理器、接受图像处理器输出信号的监视器和存储记录器。
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