[发明专利]PDP面板的介质检查装置无效
| 申请号： | 03103187.0 | 申请日： | 2003-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN1485612A | 公开（公告）日： | 2004-03-31 |
| 发明（设计）人： | 殷琸 | 申请（专利权）人： | 微检测公司 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22;G01N27/60 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 武玉琴;顾红霞 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种PDP面板的介质检查装置，检查形成于PDP面板的上板玻璃上的介质的均一性和质量，其通过利用测试静电电容的非接触式静电电容接近传感器探头进行无损检查，可以检查广泛区域的介质的涂敷状态和质量，且因是无损检查，检查后的产品还可以使用，所以提高了成品率，另外通过全数检查，提高了产品可靠性。该检查装置包括：第1及第2短路块，向PDP面板的所有总线电极提供基准电压；静电电容接近传感器探头，运用非接触方式边扫描总线电极上的介质表面，边根据介质厚度和介电常数的变化，用电压值输出与总线电极之间的静电电容的变化；和控制单元，控制传感器探头，并根据其输出电压判断介质的状态。 | ||
| 搜索关键词： | pdp 面板 介质 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种PDP面板的介质检查装置，用于检查PDP面板的电气特性，其特征在于，该介质检查装置包括：第1及第2短路块，向所述PDP面板的所有总线电极提供基准电压；静电电容接近传感器探头，运用非接触方式边扫描所述总线电极上的介质表面，边根据所述介质厚度和介电常数的变化，用电压值输出与所述总线电极之间的静电电容的变化；和控制单元，不仅控制所述静电电容接近传感器探头，还根据所述静电电容接近传感器探头的输出电压判断所述介质的状态。
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