[发明专利]一种应力或疲劳造成的活动缺陷的检测方法无效
申请号: | 03100611.6 | 申请日: | 2003-01-17 |
公开(公告)号: | CN1425914A | 公开(公告)日: | 2003-06-25 |
发明(设计)人: | 李路明;黄松岭 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100084 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种应力或疲劳造成的活动缺陷的检测方法,属于电磁无损检测技术领域。本发明提供的方法包括如下步骤:采用和被测构件材质、热处理状态、厚度均相同的材料做成活动缺陷试样,给试样施加应力或疲劳使其产生符合探伤规范要求中规定尺度的缺陷;用磁传感器以固定提离值检测所述试样上缺陷区域的磁场强度;将扫查长度上各采样点的磁场强度绝对值的平均值作为检测阈值;用所述的磁传感器检测被测构件表面相同提离值高度上各点的磁场强度,并将之同所述的检测阈值进行比较。当磁场强度值超过所述检测阈值时,就认为该处存在活动缺陷。本发明无需外加激励,可直接测出工件表面的活动缺陷,避免了传统检测方法无法区分缺陷性质的问题,特别是避免了误报。 | ||
搜索关键词: | 一种 应力 疲劳 造成 活动 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种应力或疲劳造成的活动缺陷的检测方法,其特征在于该方法包括如下步骤:1)采用和被检测铁磁性构件材质相同、热处理状态相同且厚度相同的材料做成活动缺陷试样,给试样施加应力或疲劳使其产生符合探伤规范要求中规定尺度的缺陷2)用磁传感器以固定提离值检测所述试样上缺陷区域的磁场强度,扫查方向为垂直缺陷的方向;对试样上的裂纹缺陷,扫查范围以裂纹缺陷为检测中心,扫查长度为所述提离值的两倍;对试样上的塑性变形缺陷,扫查范围以塑性变形缺陷为检测中心,扫查长度为所述提离值与扫查方向上塑性变形区长度之和的两倍;磁传感器测得的磁场强度信号通过放大、滤波、A/D转换和计算机采样后,在显示装置上显示测得的各采样点磁场强度值形成的信号波形;3)将所述扫查长度上的各采样点的磁场强度绝对值的平均值作为检测阈值;4)用上述步骤所用的磁传感器检测被测构件表面的相同提离值高度上各点的磁场强度,测得的磁场强度信号通过放大、滤波、A/D转换和计算机采样后,在显示装置上显示测得的各采样点磁场强度值形成的信号波形;5)将第4)步测得的各采样点的磁场强度值同第3)步确定的检测阈值进行比较,当磁场强度值超过所述检测阈值时,就认为该处存在的活动缺陷。
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