[发明专利]集成电路和用于测试该集成电路的方法无效
| 申请号： | 02811721.2 | 申请日： | 2002-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN1515074A | 公开（公告）日： | 2004-07-21 |
| 发明（设计）人： | C·H·范贝尔克尔;A·M·G·佩特尔斯 | 申请（专利权）人： | 皇家菲利浦电子有限公司 |
| 主分类号： | H03K3/037 | 分类号： | H03K3/037;H03K3/356;H03K19/20 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 陈景峻;王忠忠 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 根据本发明的一集成电路包括多个单元(C1、C2、C3、C4；1)，具有用于接收控制信号(n、s、t)的第一输入(2a、2b、2c)，用于设置单元(1)的一个操作模式。单元(1)具有一个功能模式、一个扫描输入模式、一个扫描输出模式。在该功能模式(n＝1、s＝0、t＝1)中，对在一个或者多个第二输入(4a、4b)接收的信号(a、b)执行一个逻辑操作。该逻辑操作的结果通过内部节点(6)提供到一个输出(10)。在扫描输入模式(n＝0、s＝1、t＝0)中，扫描输入的一个值存储在该内部节点(6)。在扫描输出模式(n＝0、s＝0、t＝1)中，内部节点(6)的值被提供到该输出(10)。根据本发明的集成电路还具有一个评估模式(n＝1、s＝0、t＝0)，其中该输入信号(a、b)的逻辑操作的结果被存储在该内部节点(6)，并且其中该单元的输出(10)被禁止。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 用于 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.包括多个单元(C1、C2、C3、C4；1)的集成电路，具有：用于接收控制信号(n、s、t)的第一输入(2a、2b、2c)，用于设置单元(1)的一个操作模式，该单元(1)具有一个操功能模式、一个扫描输入模式、一个扫描输出模式；其中功能模式(n＝1、s＝0、t＝1)是对于在一个或多个第二输入(4a、4b)接收的信号(a、b)执行一个逻辑操作，该逻辑操作的结果通过一个内部节点(6)而提供到一个输出(10)；其中扫描输入模式(n＝0、s＝1、t＝0)将一个扫描输入的值存储在该内部节点(6)；其中扫描输出模式(n＝0、s＝0、t＝1)将在该内部节点(6)的值提供到该输出(10)；该集成电路的特征在于，该集成电路还具有一个评估模式(n＝1、s＝0、t＝0)，其中该输入信号(a、b)的逻辑操作的结果被存储在该内部节点(6)，并且其中该单元的输出(10)被禁止。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家菲利浦电子有限公司，未经皇家菲利浦电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02811721.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
