[发明专利]一种改进的位移和扭矩探测器

摘要

一种光学位移探测器(200)，包括一个光辐射源(230)，一个辐射探测元件阵列(240)，至少一个调制元件(204，205)，具有交替的第一和第二调制区(206，207)，周边有间距地围绕元件的一个中心轴，第一和第二区具有不同的光学性能，以及相邻的第一和第二区之间的过渡区被一个实质上径向延伸的边缘限定，调制元件(240)相对于探测器阵列(240)位移，从而使第一和第二区(206，207)暴露至来自光辐射源(230)的光辐射以及被探测器阵列(240)跨过，以便在阵列(240)上形成调制元件的上述的第一和第二区的一个影象，以及一个数据处理器连接至探测器阵列，用以接收来自它的相关的信号，它代表投射在探测器上的辐射的强度。探测器阵列(240)包括一个二维的探测器元件阵列，它产生一个第一和第二区的二维的影象，而处理器适用于由此二维的影象中识别在至少一个调制元件上(204，205)至少两个不同的径向延伸的区域边缘的取向，以及由这些边缘已确定的取向确定元件中心的位置。

主权项

1.一种光学位移探测器，包括一个光辐射源，一个辐射探测器阵列，至少一个调制元件，该元件具有交替的第一和第二调制区，周边有间距地围绕元件的一个中心轴，第一和第二区具有不同的光学性能，以及相邻的第一和第二区之间的过渡区，被一个实质上径向延伸的边缘限定，该调制元件可相对于探测器阵列位移，从而使第一和第二区暴露至来自光辐射源的光辐射以及被探测器阵列跨过，以便在阵列上形成调制元件的上述的第一和第二区的一个影象，一个数据处理器，连接至探测器阵列，用以接收由于辐射投射在探测器上的来自阵列的相关的信号，以及其特征在于：探测器阵列包括一个二维的探测器元件阵列，它产生一个第一和第二区的二维的影象；该处理器适用于由此二维的影象中识别在至少一个调制元件上各区的至少两个不同的径向延伸的边缘的取向，以及由这些边缘已确定的取向确定元件中心的位置。