[发明专利]使用阶梯形型面的掩膜来制造薄膜结构的系统和方法无效

专利信息
申请号: 02806717.7 申请日: 2002-03-13
公开(公告)号: CN1498284A 公开(公告)日: 2004-05-19
发明(设计)人: D·A·巴尔德温;T·L·海尔顿 申请(专利权)人: 4波公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C16/00;G02B1/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 崔幼平;章社杲
地址: 美国弗*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于制造沉积在底衬(14)上的薄膜结构的系统和方法。该薄膜结构具有沿底衬(14)半径变化的不同的相应厚度。底衬(14)围绕旋转轴线旋转,并且被沉积材料的源指向旋转底衬。具有阶梯形型面的掩膜(20)定位在旋转的底衬(14)和该源之间。该阶梯形的掩膜(20)选择性地阻挡从该源发射出的材料,以防止其到达该底衬。该掩膜(20)的型面的每一阶梯部对应于薄膜结构的相应厚度中的一个厚度。薄膜结构的不同的相应厚度沿半径变化,该半径从旋转底衬的旋转轴线开始测量。
搜索关键词: 使用 阶梯 形型面 掩膜来 制造 薄膜 结构 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于制造沉积在底衬上的薄膜结构的系统,其中该薄膜结构具有沿该底衬的半径改变的不同的相应厚度,该系统包括:(a)旋转底衬;(b)指向该旋转底衬的被沉积材料的源;和(c)定位在该旋转底衬和该源之间的掩膜,该掩膜具有阶梯形的型面,该型面的每一阶梯部对应于该相应厚度中的一个厚度;以及其中,该半径从该旋转底衬的旋转轴线开始测量。
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