[发明专利]金属异物检测方法及其装置有效
申请号: | 02803160.1 | 申请日: | 2002-09-19 |
公开(公告)号: | CN1476535A | 公开(公告)日: | 2004-02-18 |
发明(设计)人: | 近藤信一 | 申请(专利权)人: | 德克工程株式会社 |
主分类号: | G01N27/72 | 分类号: | G01N27/72;G01V3/11 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的金属异物检测方法及其装置,用于检测利用铝等导电性包装材料进行包装的食品、药品、工作材料等被检测物中混入的金属异物。通过向线图(10、11)内施加电压或者供给电流,使其产生微小磁场,把对微小磁场进行响应的金属异物所产生的检测磁场,作为线圈(10、11)的检测电压或检测电流检测出来,对检测信号进行输出。对该检测信号进行解析,检测出金属异物。微小磁场,施加到线圈(10、11)上的电压或者供给的电流很微小,而且利用了构成线圈(10、11)的铁心的磁场特性的非线性部分。 | ||
搜索关键词: | 金属 异物 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1、一种金属异物检测方法,包括:传送工序,其为了检测在制造过程中混入到包装内的被检测物中的金属异物,用传送路来传送上述被检测物;以及金属异物检测工序,其设置在上述传送路的中途,在铁心上缠绕导线的结构的线圈所制成的检测部,它产生磁场,用于检测混入到上述被检测物中的金属异物,其特征在于还包括:检测信号输出工序,其通过在上述线圈内加电压或供给电流而产生微小磁场,把对上述微小磁场进行响应的、来自上述金属异物的检测磁场作为上述线圈的检测电压或检测电流进行检测,输出检测信号;以及信号解析工序,用于解析上述检测信号,为了判定上述金属异物而对信号进行解析,上述微小磁场,加在上述线圈内的上述电压或提供的上述电流是微小的,而且,利用了构成上述线圈的上述铁心的磁场特性的非线性部分。
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