[发明专利]用于测试小型装置和部件的接触器有效

专利信息
申请号: 02147996.8 申请日: 2002-11-01
公开(公告)号: CN1431518A 公开(公告)日: 2003-07-23
发明(设计)人: 渡边直行;丸山茂幸;田代一宏;小泉大辅;端谷隆文 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 冯赓宣
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种接触器包括绝缘材料的薄膜基片和在该基片上的多个布线图案,其中每一布线图案的第一端从该基片的第一边缘伸出作为第一接触端子,每一布线图案的第二端从该基片的第二边缘伸出作为第二接触端子,并且位于第一端和第二端之间的接触器的一部分可被弹性变形。
搜索关键词: 用于 测试 小型 装置 部件 接触器
【主权项】:
1、一种将测试装置的基片与被测试物体电连接的接触器,包括:绝缘材料的薄膜基片;和多种设置在所述基片上的布线图案;作为第一接触端子的从所述基片的第一边缘伸出的每一布线图案的第一边缘,作为第二接触端子的从所述基片的第二边缘伸出的每一布线图案的第二端,其中位于所述第一和第二端之间的所述接触器部分可被弹性变形。
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