[发明专利]梁膜一体结构谐振梁压力传感器芯片及制造方法无效

专利信息
申请号: 02143360.7 申请日: 2002-09-26
公开(公告)号: CN1485599A 公开(公告)日: 2004-03-31
发明(设计)人: 陈德勇;崔大付;王利 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01L1/10 分类号: G01L1/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100080*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种梁膜一体结构谐振梁压力传感器芯片及制造方法,特点是在单一硅片正面制作谐振梁在背面制作压力敏感膜,谐振梁由两个半岛结构支撑,通过多孔硅牺牲层技术实现,材料选用低应力厚氮化硅。这样不仅简化微谐振式压力传感器的制作工艺,而且提高了压力灵敏度。
搜索关键词: 一体 结构 谐振 压力传感器 芯片 制造 方法
【主权项】:
1、一种梁膜一体结构谐振梁压力传感器芯片,其特征在于,其中包括:一硅片,硅片上制作有一层氮化硅薄膜;在氮化硅薄膜和硅片上开有一凹槽,该凹槽概似一工字形,形成两矩形半岛,该两矩形半岛上的氮化硅连通为谐振梁;该硅片上开的凹槽周围为矩形框架,该凹槽的底部为矩形压力膜。
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