[发明专利]一种测量光传输系统性能的方法及装置有效
申请号: | 02141782.2 | 申请日: | 2002-09-05 |
公开(公告)号: | CN1481084A | 公开(公告)日: | 2004-03-10 |
发明(设计)人: | 余力 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518057广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种测量光传输系统性能的方法及装置,所述方法包括如下步骤:1)选取一个参考电平,以该参考电平为判决电平对码流进行恢复,得到参考码流;将该参考码流与变化的判决电平下恢复的码流进行比较,从而得到第一条误码率与判决电平的“U”字型关系曲线,并推算出“U”字型关系曲线的最低点处的误码率;不断改变参考电平,得到多个“U”字型关系曲线的最低点处的误码率,并找出其中的最低误码率,从该最低误码率推算出Q因子的值。由于利用参考电平恢复数据作为参考码流,这样就不需要事先准备一个标准信号作为参考码流,大大方便了测试,解决了现场监控的难题。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 传输 系统 性能 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种测量光传输系统性能的方法,其特征是包括如下步骤:1)选取第一参考电平,以该参考电平为判决电平对码流进行恢复,得到参考码流;将该参考码流与变化的判决电平下恢复的码流进行比较,从而得到第一条误码率(BER)与判决电平(Uth)的“U”字型关系曲线,并推算出“U”字型关系曲线的曲线最低点处的误码率;2)选取第二参考电平,重复上述过程,得到另一个“U”字型关系曲线最低点处(B)处的误码率;3)不断改变参考电平,得到多个“U”字型关系曲线的最低点处的误码率,并找出其中的最低误码率,此时的参考电平为最优参考电平;4)将上述最优参考电平作为最佳判决电平,从该最低误码率推算出Q因子的值。
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